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ÍNDICE
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INDEX |
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1
OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACION
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1. OBJECTIVE AND FIELD OF APPLICATION |
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2
PREFERENCIAS |
2. PREFERENCES |
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3
DEFINICIONES |
3. DEFINITIONS |
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4
CLASIFICACION DE DEFECTOS Y UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS
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4. CLASSIFICATION OF DEFECTS AND DEFECTIVE UNITS OF PRODUCTS |
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S
PORCENTAJE DE UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS Y DEFECTOS
POR CIEN UNIDADES DE PRODUCTO |
5. PERCENTAGE OF DEFECTIVE UNITS OF PRODUCT AND DEFECTS PER
ONE HUNDRED UNITS OF PRODUCT |
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6
NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (NCA)
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6. ACCEPTABLE QUALITY LEVEL (AQL) |
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7
PRESENTACION DEL PRODUCTO PARA SU INSPECCION
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7. PRESENTATION OF THE PRODCT FOR ITS INSPECTION |
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8
ACEPTACION 0 RECHAZO
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8. ACCEPTANCE OR REJECTION |
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9
EXTRACCION DE MUESTRAS |
9. EXTRACTION OF SAMPLES |
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10 INSPECCION
NORMAL, RIGUROSA Y REDUCIDA
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10. NORMAL, RIGOROUS AND REDUCED INSPECTION |
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11 PLANES DE
MUESTREO |
11. SAMPLING PLANS |
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12 CRITERIO DE
ACEPTACION |
12. ACCEPTANCE CRITERIA |
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13 INFORMACION
SUPLEMENTARIA
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13. SUPPLEMENTARY INFORMATION |
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14 TABLAS Y
GRAFICAS PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOS |
14. TABLES AND GRAPHS FOR THE INSPECTION BY ATTRIBUTES |
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I
LETRAS CLAVE CORRESPONDIENTES AL TAMAÑO DE LA MUESTRA |
I. CODE LETTERS CORRESPONDING TO THE SIZE OF THE SAMPLE |
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II-A PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION NORMAL
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II-A. SINGLE SAMPLING PLANS FOR NORMAL INSPECTION |
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II-B PLANES DE MUESTREO
SENCILLO PARA INSPECCION RIGUROSA
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11-B. SINGLE SAMPLING PLANS FOR RIGOROUS INSPECTION |
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II-C PLANES DE MUESTREO
SENCILLO PARA INSPECCION REDUCIDA
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11ºC. SINGLE SAMPLING PLANS FOR REDUCED INSPECTION |
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III-A PLANES DE MUESTREO DOB LE PARA INSPECCION NORMAL
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III-A. DOUBLE SAMPLING PLANS FOR NORMAL INSPECTION |
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III-B PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION RIGUROSA
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III-B. DOUBLE SAMPLING PLANS FOR RIGOROUS INSPECTION |
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III-C PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION REDUCIDA
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III-C. DOUBLE SAMPLING PLANS FOR REDUCED INSPECTION |
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IV-A PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION NORMAL
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IV-A. MULTIPLE SAMPLING PLANS FOR NORMAL INSPECTION |
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IV-B PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION RIGUROSA
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IV-B. MULTIPLE SAMPLING PLANS FOR RIGOROUS INSPECTION |
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IV-C PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION REDUCIDA
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IV-C. MULTIPLE SAMPLING PLANS FOR REDUCED INSPECTION |
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V-A FACTORES PARA EL
LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA PARA INSPECCION
NORMAL |
V-A. FACTORS FOR THE AVERAGE QUALITY EXIT LIMIT FOR NORMAL
INSPECTION |
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V-B FACTORES PARA EL
LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA PARA INSPECCION
RIGUROSA |
V-B. FACTORS FOR THE AVERAGE QUALITY EXIT LIMIT FOR
RIGOROUS INSPECTION |
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VI-A CALIDAD LIMITE (EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS)PARA
LA CUAL Pa=10% |
VI-A. QUALITY LIMIT (IN PERCENTAGE OF DEFECTS) FOR WHICH Pa
= 10% |
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VI-B CALIDAD LIMITE (EN DEFECTOS POR CIEN
UNIDADES)PARA LA CUAL Pa=10%
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VI-B. QUALITY LIMIT (IN DEFECTS PER ONE HUNDRED UNITS)
FOR WHICH Pa = 10% |
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VII-A. CALIDAD LIMITE (EN PORCENFAJE DE DEFECTUOSAS)PARA LA
CUAL Pa=S% |
VII-A. QUALITY LIIT (IN PERCENTAGE OF DEFECTS) FOR WHICH
Pa=5% |
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VII-B CALIDAD LIMITE,(EN DEFECTOS POR CIEN UNIDADES)PARA LA
CUAL Pa=5% |
VII-B. QUALITY LIMIT, (IN DEFECTS PER ONE HUNDRED UNITS) FOR
WHICH Pa=5% |
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VIII NUMEROS LIMITES PARA
INSPECCION REDUCIDA
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VIII. LIMIT NUMBERS FOR REDUCED INSPECTION |
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IX CURVAS
DEL TAMAÑO PROMEDIO DE LAS MUESTRAS PAPA MUESTREOS DOBLE Y
MULTIPLEPLANES DE MUESTREO Y CURVAS DE OPERACION
CARACTERISTICAS |
IX. CURVES OF THE AVERAGE SIZE OF THE SAMPLES FOR DOUBLE AND
MULTIPLE SAMPLING PLANS AND CHARACTERISTIC CURVES OF
OPERATION |
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X-A TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE A
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X-A. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER A |
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X-B TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE B
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X-B. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER B |
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X-C TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENI'E A LA LETRA CLAVE C
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X-C. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER C |
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X-D TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE D
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X-D. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER D |
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X-E TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE E
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X-E. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER E
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X-F TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE F
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X-F. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER F
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X-G TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE G
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X-G. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER G |
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X-H TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE H
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X-H. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER H |
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X-J TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE J
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X-J. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER J |
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X-K TAMARIO DE LA
MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE K
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X-K. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER |
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X-L TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE L
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X-L. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER L |
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X-M TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE M
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X-M. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER M |
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X-N TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE N
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X-N. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER N |
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X-P TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE P
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X-P. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER P |
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X-Q TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE Q
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X-Q. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER Q |
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X-R TAMAÑO DE LA MUESTRA
CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAVE R. |
X-R. SIZE OF THE SAMPLE CORRESPONDING TO THE CODE LETTER R
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